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Journal Européen des Systèmes Automatisés

1269-6935
Revues des Systèmes
 

 ARTICLE VOL 40/7 - 2006  - pp.745-762  - doi:10.3166/jesa.40.745-762
TITLE
Optimum multiple-stress-type accelerated life testing plans based on proportional odds model with simple step-stress loading

RÉSUMÉ
Les essais de vieillissement accéléré sont appliqués pour précipiter rapidement des défaillances sous stress élevé pour prévoir le niveau de fiabilité sous stress nominal. La plupart des recherches précédentes sur la modélisation des essais de vieillissement accéléré se concentrent sur l'application des essais simples. Cependant, comme les produits deviennent de plus en plus fiables grâce aux avancées technologiques, il devient plus difficile d'obtenir des données de défaillance suffisantes en utilisant seulement des essais simples et découplés. Ainsi, des essais de vieillissement accéléré utilisant de nombreux types de stress sont appliqués pour surmonter ces difficultés. Dans cet article, nous proposons un plan d'essais combinés optimum fondé sur le modèle de hasard proportionnel avec un simple niveau de charge de contrainte et un modèle cumulatif d'exposition. Le niveau bas de chaque type de contrainte et le temps de changement de niveau de contrainte sont déterminés de façon optimale pour que la variance de la prévision de fiabilité du produit sous stress nominal sur une période préspécifiée soit minimum. Le modèle proposé est illustré par une application numérique.


ABSTRACT
Accelerated life testing (ALT) is used to induce early failures under high stress levels in order to predict product reliability performance at the design stress. Most of the previous work on designing ALT plans is focused on the application of a single stress type. However, the mission time of today's products is extended so much that it becomes more difficult to obtain significant amount of failure data within reasonable amount of time using single stress type only. Multiple-stress-type ALTs have been employed as means of overcoming such difficulties. In this paper, we design optimum multiple-stress-type ALT plans based on the proportional odds model with simple step-stress loading and cumulative exposure model. Low stress levels of each stress type and the stress level changing time are optimally determined such that the variance of the reliability prediction of the product at the design stress levels over a pre-specified period of time is minimized. The proposed ALT plans are illustrated by a numerical example.


AUTEUR(S)
Elsayed A. ELSAYED, Hao ZHANG

MOTS-CLÉS
test de vie accéléré, plan de test, simple niveau de charge, modèle de hasard proportionnel, modèle cumulatif d'exposition.

KEYWORDS
accelerated life testing, ALT plans, simple step-stress loading, proportional odds model, cumulative exposure model.

LANGUE DE L'ARTICLE
Anglais

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